オプテックス・エフエー（小國勇社長）の子会社で画像機器メーカーの日本エフ・エーシステム（東京都品川区西五反田４―32―１、TEL０３―５７４０―７５２１、小國勇社長）は、短時間で３Ｄ形状計測が可能な卓上型３Ｄ形状計測装置「３Ｄ―Ｅｙｅ スキャナー計測検査モデル」を発売した。価格は７００万円から。今年度の国内販売目標は30台。 同社は、光切断法による幅の広いレーザ光源で、ワークを一括スキャンする測定方式を採用し、短時間で３Ｄ形状計測を行う簡易型卓上計測装置３Ｄ―Ｅｙｅスキャナーを昨年発売した。
今回発売した計測検査モデルは、ワークの大きさ（高さ・体積など）を測る従来の計測装置に、検査対象専用のソフトウェアを追加した検査装置。ＯＫ／ＮＧの判別が可能で、研究開発用途のほか、通常の計測装置では難しい少量製造ラインでの３Ｄ外観検査に対応する。
同社ではカスタマイズとして、表面に微細なボール状電極を有するＢＧＡのバンプ高さ・直径・体積・コプラナリティーなど、はんだ接合性の検査を行う「ＢＧＡバンプ計測検査モデル」や、「ＰＣＢ用基材計測検査モデル」、「はんだフィレット計測検査モデル」、「膜厚分布計測検査モデル」など、ユーザーの検査対象に応じたカスタマイズを行う。
検査台は縦横（Ｘ、Ｙ）２方向に動き、測定範囲は、１軸仕様75×15ミリ、２軸仕様標準タイプ75×60ミリ、同ワイドタイプ１２５×１０５ミリ。測定視野（スキャン幅）は15ミリ。Ｚ軸測定可能段差１ミリ、最大駆動速度１００ミリ／秒。
主要販売先は半導体業界、電子部品業界。なお、ソフトウェアを搭載しない従来型も引き続き販売する。
同社は、１９９１年設立、産業用画像機器の開発・設計・製造・輸出入を行っており、07年にオプテックス・エフエーが子会社化した。
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