オプテックスエフエーは、高温金属測定用の赤外線 サーモグラフィ「Xi1Mシリーズ」を発売した。
同製品は、測定波長0.85~1.1μm、測定温度範囲＋450～＋1800℃、解像度が396×300pixelと高く、距離を離しても細かく温度測定が可能なサーモグラフィ。視野内で測定エリアを自由に設定でき、柔軟かつ多彩な測定が可能。金属、金属酸化物、セラミックなどの温度測定に適しており、石英などの素材を使用したガラス越しの測定も可能。鋳物製造ラインでの注湯工程の温度や高周波誘導加熱装置における金属の温度測定にも対応している。
従来のUSB接続に加え、PoE（Power over Ethernet）接続により電源不要かつ長距離配線がLAN（1000BASE-TX）で可能となっている。
解析・PLCとの連携を簡易にできる多機能ソフトウェア「PIX Connect」、サーモグラフィの測定値をPLCで取得でき、PLCからもサーモグラフィの主要操作が可能な熱画像APIソフトウェア「Bridge PIX」も用意している。
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